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T/CASAS 021-2024 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFETs)阈值电压测试方法
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T/CASAS 037-2024 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)栅极电荷测试方法
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T/CASAS 036-2025 碳化硅单晶生长用等静压石墨构件纯度测定方法 辉光放电质谱法
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T/CASAS 033-2024 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)功率器件开关动态测试方法
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T/CASAS 044-2024 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)高压高温高湿反偏试验方法
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T/CASAS 043-2024 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)高温反偏试验方法
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T/CASAS 042-2024 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)高温栅偏试验方法
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T/CASAS 048-2025 碳化硅单晶生长用等静压石墨
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T/CASAS 046-2024 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)动态反偏(DRB)试验方法
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T/CASAS 045-2024 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)动态栅偏试验方法
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