标 准 编 号： 1236-2010
简体中文标题：半导体管特性图示仪校准规范
繁体中文标题：半导体管特性图示仪校准规范
English Name：Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers

标准简介：
本规范适用于计量比对的组织、实施和评价。其他比对可参照本规范。