本文件代替 SH/T 0339一1992《NaY分子筛晶胞大小测定法》
本文件描述了用X射线衍射法测定八面沸石分子筛晶胞参数的方法。
注:八面沸石包括合成的Y型、x型以及改性分子筛，如不同阳离子交换型、脱 铝 、脱 阳 离子和超稳Y等类型。
本文件适用于不同制备工艺的八面沸石分子筛样品，以及含有这些分子筛的催化剂和吸附剂。 样品中分子筛含量可以低至5%，例如裂化催化剂。
本文件所代替文件的历次版本发布情况为:
1992年首次发布为SH/T 0339-1992;
本次为第一次修订。