本文件规定了X射线衍射法测定ZSM-22分子筛相对结晶度的试验方法。
本文件适用于ZSM-22 (TON结构）分子筛及其改性的ZSM-22分子筛相对结晶度的测定，相对结晶度测定范围为32.0% ~100.0%。
本文件不适用于在XRD谱图中检测到明显杂晶峰的过渡态样品。
注:其他具有与"SM-22分子筛相同结构的分子筛材料（如Theta-1，KZ-2，NU-10，ISI-1等）的相对结晶度测定可以参考本方法。