JB/T 7776.4-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第4部分:苯芴酮分光光度法测定锡量
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JB/T 7776的本部分规定了银氧化镉电触头材料中锡量的测定方法。
本部分适用于银氧化镉电触头材料中锡量的测定。测定范围:0.10%~O.50%。
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