本文件规定了碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）结壳热阻瞬态双界面测试方法。
本文件仅适用于SiC MOSFET分立器件以源极和漏极之间的电压???作为测试温敏参数的结壳热阻测试。