T∕CIE 092-2020 自旋转移矩磁随机存储器测试方法
标准编号 T/CIE 092—2020
中文标题 自旋转移矩磁随机存储器测试方法
发布日期 2020年12月21日
实施日期 2021年01月25日
本标准给出了自旋转移矩磁随机存储器（Spin-Transfer Torque Magnetic Random Access Memory，STT-MRAM）的术语、测试原理、被测件、测试环境、测试设备、测试程序等。
本标准适用于自旋转移矩磁随机存储器以及内嵌上述存储器的集成电路。