JIS R1693-3-2012 精细陶瓷和陶瓷基复合材料的发射率的测量方法--第3部分：直接加热法测定热半球总发射率
 Measurement method for emissivity of fine ceramics and ceramic matrix composites --
 Part 3: Hemispherical total emissivity by direct heating calorimetry